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半導体・デバイス

光デバイス 信頼性情報光デバイス 信頼性情報

高周波・光デバイスの信頼性

1. 半導体デバイスの信頼性

  1. 1.

    品質に対する考え方

  2. 2.

    半導体デバイスの信頼性の考え方

2. 半導体デバイスの品質保証

  1. 1.

    半導体デバイスの品質保証

  2. 2.

    開発段階での品質保証

  3. 3.

    量産段階での品質保証

  4. 4.

    出荷後の異常と是正措置

  5. 5.

    材料、部品の品質保証

  6. 6.

    設備、計測器の管理と環境の管理

3. 半導体デバイスの故障メカニズム

  1. 1.

    光素子の劣化メカニズム

  2. 2.

    高周波デバイスの劣化メカニズム

4. 半導体デバイスの故障解析

  1. 1.

    故障解析の必要性

  2. 2.

    故障解析とは

  3. 3.

    故障解析の実際

5. 半導体デバイス取り扱い注意事項

  1. 1.

    梱包方法

  2. 2.

    運搬方法

  3. 3.

    保管方法

  4. 4.

    静電気に対する取り扱いの上の注意

  5. 5.

    表面実装形デバイス(SMD)実装時の注意事項

  6. 6.

    洗浄


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